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蘇州X射線(xiàn)檢測(cè)

發(fā)布時(shí)間：2020年4月27日   |   閱讀次數(shù)： 130

X射線(xiàn)檢測(cè)是利用X射線(xiàn)可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中具有衰減的特性，發(fā)現(xiàn)缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。X射線(xiàn)的波長(zhǎng)很短一般為0.001～0.1nm。X射線(xiàn)以光速直線(xiàn)傳播，不受電場(chǎng)和磁場(chǎng)的影響，可穿透物質(zhì)，在穿透過(guò)程中有衰減，能使膠片感光。

當(dāng)X射線(xiàn)穿透物質(zhì)時(shí)，由于射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用，將產(chǎn)生一系列極為復(fù)雜的物理過(guò)程，其結(jié)果使射線(xiàn)被吸收和散射而失去一部分能量，強(qiáng)度相應(yīng)減弱，這種現(xiàn)象稱(chēng)之為射線(xiàn)的衰減。X射線(xiàn)探傷的實(shí)質(zhì)是根據(jù)被檢驗(yàn)工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對(duì)射線(xiàn)能量衰減程度不同，而引起射線(xiàn)透過(guò)工件后強(qiáng)度差異，使感光材料（膠片）上獲得缺陷投影所產(chǎn)生的潛影，經(jīng)過(guò)暗室處理后獲得缺陷影像，再對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定工件內(nèi)部缺陷的性質(zhì)和底片級(jí)別。

根據(jù)觀察其缺陷的性質(zhì)、大小和部位來(lái)評(píng)定材料或制品的質(zhì)量，從而防止由于材料內(nèi)部缺陷、加工不良而引起的重大事故。

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