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葉面積掃描儀對四個標準葉片的校正

發(fā)布時間：2014年8月7日   |   閱讀次數(shù)： 565

當使用葉面積掃描儀可以測量葉片和標準對象在同一圖像使其可以使用對象的標準線性幾何變補償測量葉片線性幾何失真,有效降低線性幾何變的影響。如果葉面積掃描儀測量葉片的大小2方向接近,可以使用長度、寬度測量葉片接近標準的對象,使葉面積測量葉片的標準對象重心和形心重合。盡可能由于標準對象和葉面積掃描儀測量葉片是相同的線性幾何變,校準和測量可以依法進行無失真,和線性幾何變的影響將大大降低。 　　如果葉面積掃描儀測量葉片的方向2尺寸很大,長時間測量葉片,為了充分利用CCD像素,可以使用兩個細長的標準對象測量平行兩邊的葉片,和盡量對稱。葉面積校準當用戶指定兩個標準對象和輸入?yún)^(qū)域,按照不失真條件下由計算機兩個比率平均比率后,可以按照葉面積掃描儀測量而不失真。 　　如果被測葉面積是一種組合的形式,它必須知道每一片小葉的區(qū)域,但葉面積掃描儀不會分別多重掃描,那么您可以使用四個標準葉片的對象。儀器掃描葉片面積時的四個標準葉片對象位于四個視角。葉面積掃描儀分別校準需要指定每個對象和輸入標準的葉片面積區(qū)域。每個指定的葉片面積可以按照任何失真條件由計算機和一個比例葉片的位置。 產(chǎn)品信息：http://www.agr17.com.cn/ 葉面積掃描儀

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